龙口电子元器件失效分析

-龙口电子元器件失效分析 
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1、简介

电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础，元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。因此，必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作，通过分析确定失效机理，找出失效原因，反馈给设计、制造和使用，共同研究和实施纠正措施，提高电子元器件的可靠性。

电子元器件失效分析的目的是借助各种分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认终的失效原因，提出改进设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。

2、服务对象

元器件生产商：深度介入产品设计、生产、可靠性试验、售后等阶段，为客户提供改进产品设计和工艺的理论依据。

组装厂：划分责任，提供索赔依据；改进生产工艺；筛选元器件供应商；提高技术；改进电路设计。

器件代理商：区分品质责任，提供索赔依据。

整机用户：提供改进操作环境和操作规程的依据，提高产品可靠性，树立企业品牌形象，提高产品竞争力。

分析过的元器件种类：

集成电路、场效应管、二极管、发光二极管、三极管、晶闸管、电阻、电容、电感、继电器、连接器、光耦、晶振等各种有源/无源器件。

3、主要失效模式（但不限于）

开路、短路、烧毁、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等

 	 
发光二极管开路失效	二极管短路失效（金属迁移）
 	 
漏电失效（静电击穿）	烧毁失效
 	 
电参数漂移	 
4、常用失效分析技术手段

电测：

连接性

电参数

功能

无损分析技术：

X射线透视技术

三维透视技术

反射式扫描声学显微技术（C-SAM）

 
制样技术：

开封技术（机械开封、化学开封、激光开封）

去钝化层技术（化学腐蚀去钝化层、等离子腐蚀去钝化层、机械研磨去钝化层）

微区分析技术（FIB、CP）

 
 
显微形貌像技术：

光学显微分析技术

扫描电子显微镜二次电子像技术

 
 
失效定位技术：

显微热像技术(热点和温度绘图)

液晶热点技术

光发射显微分析技术(EMMI)

失效复现/验证

表面元素分析：

扫描电镜及能谱分析（SEM/EDS）

俄歇电子能谱分析（AES）

X射线光电子能谱分析（XPS）

二次离子质谱分析（SIMS）

5、产生效益

提供电子元器件设计和工艺改进的依据，指引产品可靠性工作方向；

查明电子元器件失效根本原因，有效提出并实施可靠性改进措施；

提高成品产品成品率及使用可靠性，提升企业核心竞争力；

明确引起产品失效的责任方，为**仲裁提供依据。


电子元器件失效分析厂商 
苏州天标技术有限公司成立于2011年，拥有显微分析、热分析、无损、化学成分、物理性能、可靠性等多种与分析项目，借助科学的分析方法、专业的工程技术人员和精良的仪器设备，我们帮助客户解决在产品研发、生产、贸等环节遇到的各种产品的认证问题。是集产品综合性、分析、鉴定、评估和咨询服务的单位。 TBK中心经过数十年的积累和发展已建设成为一个集试验技术研究与应用、试验与分析、试验设备研制为一体的综合性服务机构。具备一支高*高素质*团队、具备丰富的环境可靠性试验工程技术、失效分析技术、理化技术的研究及实践能力。实验室按照CNAS中国合格评定国家认可**和CMA江苏省质量技术监督局的要求建立运营，并据ISO/IEC17025：2017,ISO9001：2015,CNAS-CLO1：2006,CNAS-CL11：2006进行管理，遵循;科学、公正、创新、服务的准则，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准，为企业提供专业技术服务。